自1984年以来，精谱一直专注于x荧光分析仪的研发和制造，伴随着工业全球化的推进，整机性能的提升和元素分析算法的智能化，精谱始终
引领着edxrf技术的发展方向。
精谱，34年来始终在定义edxrf的标准
自上而下的照射系统，测量不规则镀件更方便
● 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
● 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
● 印制电路板和柔性电路板上的镀层
● 接插件和连接器上的镀层
● 电镀槽液分析
一机多用，不只是测试厚度
thick900系列x荧光分析仪专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦x射线束，短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了镀层分析，还可以加装全元素分析软件，rohs 2.0 分析软件，满足客户一机多用的测试需求。
内部设计
可测样品高度可达130mm
安全系统
安全光栅预防意外事故同时保护探测器，降低误操作带来的仪器损坏
外形设计
x射线辐射豁免 三维移动测试平台
thick900
精谱，始终和你在一起
we are one
今天，精谱科技x荧光分析仪广泛应用于工业生产的各个行业，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们始终坚持急客户之所急，想客户之所想。通过专业的测试仪器和特殊算法为客户提供亚博im的解决方案，针对不同行业提供个性定制。